DDR1/2/3メモリーテスター

Eureka2

 Eureka2メモリーテスターはDDR1, DDR2, DDR3 DIMM/SODIMMのファンクションテスターで、各メモリーモジュールをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストでき、メモリーディストリビュータ、モジュールメーカーに於ける検査、スクリーニング、トラブルシュート用としてご使用頂けます。本機はテストアダプターの交換によりDDR1, DDR2, DDR3の各メモリーモジュールがテスト可能な他、オプションのヒートチャンバーにより温度テストを行う事が可能です。カタログダウンロード Eureka2

また、LP-DDR, LP-DDR2, LP-DDR3 NAND/NORメモリーチップテスターとしてはEureka2S モバイルメモリーテスターが用意されています。

Eureka2S モバイルメモリーテスター

 

Eureka2の操作はUSB接続したPCから行います。

特長:
・RDIMM, UDIMMの自動検出
・メモリーコンフィグレーション、メモリーサイズの自動検出
・周波数、CL自動検出
・ECC, Non-ECC自動検出
・リアルサイクルタイムテスティング
・高速テスト(20秒/1GB)
・アセンブリーフォールトのクイックチェック
・20種のファンクションテスト用Marchパターン
・SPDチェック及びプログラミング
・不良BGAチップ検出
・DCパラメトリック、リーケージテスト
・プログラマブルDDR3 ACパラメーター
・不良チップをピンポイントで表示
・テストパターン編集可能
・Shmooプロット、エラーマッピング
・自動タイミング設定
・電流測定
・Windows 7対応GUI
・ヒートチャンバーオプション
・オートハンドラーオプション

 

Eureka2 GUI


Eureka2 エラービットマップ

仕様:
Clock Frequency : 400, 533, & 667 MHz
Data-rate : 800, 1066 & 1333 MHz
Address depth : 4 Giga-word ( 16 Row x 16 Col)
Data width : Expandable 64 & 72 bit
Voltage range : 1.3, 1.4, 1.5, 1.6, 1.7, 1.8, 1.9 to 2.0V
ICC measurement : IDD0 – IDD7
CAS Read Latency : 5,6,7,8,9 & 10 Clocks
Trcd & Trp Adjustment : 5,6,7,8,9 & 10 Clocks
Burst Length : 4 & 8
Cas Write Latency : 5,6,7 & 8 clock
Mirror-Mode : Automatic
Dynamic ODT Adjut : 40, 60, 120 ohm & Auto
ZQ Adjustment : Auto Calibration
Refresh Cycle : Auto / Self Refresh
DC Parametric Testing : +/- 1 uA to 5mA
DC Test Pattern : Walk Data , Walk Address , DQS, DQM, CKE, CS & BA test
AC Test Pattern : Mat-S, March-C, March-X, March Y (23 Type March Pattern)
SPD Programming : Read/Write & Editable Byte 0 – 255
Reversible SPD Write Protect

・メモリーモジュールソケット
  標準:240 pin DDR3 DIMM
  オプション:
   204 Pin DDR3 SODIMM
   78/96 Ball BGA Chip Adapter
   DDR1, DDR2 DIMM/SODIMMアダプター
・PCインタフェース:USB 2.0
・対応OS:Windows 7, 10
・対応PC:Intel/AMD
・動作環境:温度 5~37 ℃, 湿度 20~55 %(結露しない事)
・電源:100~240 VAC, 50/60Hz
・寸法:430W x 330D x 117H mm
・重量:4.5 Kg(テストアダプター含む)


ABT-1000ヒートチャンバーオプション


 ABT-1000ヒートチャンバーは周囲温度最大90℃の環境でメモリーモジュールをテスト、バーンイン可能な低コストな温度テストオプションです。このコンパクトなベンチトップヒーターボックスは、ハロゲンランプと精密な温度制御により、素早い温度の上昇、下降が可能で、メモリーモジュールを1個単位、またはオプションのハンドラーを使用して連続温度テスト可能です。

特長:
・デュアルハロゲンランプ
・テスト温度最大90℃
・設定温度分解能:+/-1℃
・オーバーヒートプロテクション
・ヒーターカバー開放時自動電源カットオフ

仕様:

・ヒーターエレメント:デュアルハロゲンランプ
・温度範囲:30~90℃、+/-1℃分解能
・USBインタフェース
・電源:100~220VAC
・外形寸法:240W x 200D x 60H mm
・重量:3Kg

Eureka2, Eureka2S, ABT-1000はCSTの製品です。

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