品番 EK2
製品名 Eureka2
価格 Open
カタログ EK2-DDR2.PDF


DDR1, DDR2, DDR3 DIMMテスター

Eureka2



高性能DDR1/2/3メモリーモジュールテスター




 Eureka2 DDR3メモリーテスターはDDR3 DIMM/SODIMMのァンクションテスターで、JEDEC標準240pin PC3-6400, PC3-8500, PC3-10666 DDR3メモリーモジュールをリアルバススピード、リアルサイクルタイムでテストでき、メモリーディストリビュータ、モジュールメーカーに於ける検査、スクリーニング、トラブルシュート用としてご使用頂けます。











 
 本機はテストアダプターの交換によりDDR1, DDR2, DDR3の各メモリーモジュールがテスト可能な他、オプションのヒートチャンバーにより温度テストを行う事が可能です。


特長:
・RDIMM, UDIMMの自動検出
・メモリーコンフィグレーション、メモリーサイズの自動検出
・周波数、CL自動検出
・ECC, Non-ECC自動検出
・リアルサイクルタイムテスティング
・高速テスト(20秒/1GB)
・アセンブリーフォールトのクイックチェック
・20種のファンクションテスト用Marchパターン
・SPDチェック及びプログラミング
・不良BGAチップ検出
・DCパラメトリック、リーケージテスト
・プログラマブルDDR3 ACパラメーター
・不良チップをピンポイントで表示
・テストパターン編集可能
・Shmooプロット、エラーマッピング
・自動タイミング設定
・電流測定
・Windows 7対応GUI
・ヒートチャンバーオプション
・オートハンドラーオプション



















    Eureka2 GUI





















Eureka2 エラービットマップ


仕様:
Clock Frequency : 400, 533, & 667 MHz
Data-rate : 800, 1066 & 1333 MHz
Address depth : 4 Giga-word ( 16 Row x 16 Col)
Data width : Expandable 64 & 72 bit
Voltage range : 1.3, 1.4, 1.5, 1.6, 1.7, 1.8, 1.9 to 2.0V
ICC measurement : IDD0 – IDD7
CAS Read Latency : 5,6,7,8,9 & 10 Clocks
Trcd & Trp Adjustment : 5,6,7,8,9 & 10 Clocks
Burst Length : 4 & 8
Cas Write Latency : 5,6,7 & 8 clock
Mirror-Mode : Automatic
Dynamic ODT Adjut : 40, 60, 120 ohm & Auto
ZQ Adjustment : Auto Calibration
Refresh Cycle : Auto / Self Refresh
DC Parametric Testing : +/- 1 uA to 5mA
DC Test Pattern : Walk Data , Walk Address , DQS, DQM, CKE, CS & BA test
AC Test Pattern : Mat-S, March-C, March-X, March Y (23 Type March Pattern)
SPD Programming : Read/Write & Editable Byte 0 – 255
Reversible SPD Write Protect

・メモリーモジュールソケット
  標準:240 pin DDR3 DIMM
  オプション:
   204 Pin DDR3 SODIMM
   78/96 Ball BGA Chip Adapter
   DDR1, DDR2 DIMM/SODIMMアダプター
・PCインタフェース:USB 2.0
・対応OS:Windows 7
・対応PC:Intel/AMD
・動作環境:温度 5〜37 ℃, 湿度 20〜55 %(結露しない事)
・電源:100〜240 VAC, 50/60Hz
・寸法:430W x 330D x 117H mm
・重量:4.5 Kg(テストアダプター含む)



ABT-1000ヒートチャンバーオプション

 ABT-1000ヒートチャンバーは最大90℃でメモリーモジュールをテスト、バーンイン可能な低コストな温度テストオプションです。
 このコンパクトなベンチトップヒーターボックスは、ハロゲンランプと精密な温度制御により、素早い温度の上昇、下降が可能で、メモリーモジュールを1個単位、またはオプションのハンドラーを使用して連続温度テストが可能です。


特長:
・デュアルハロゲンランプ
・テスト温度最大90℃
・設定温度分解能:+/-1℃
・オーバーヒートプロテクション
・ヒーターカバー開放時自動電源カットオフ

仕様:
・ヒーターエレメント:デュアルハロゲンランプ
・温度範囲:30〜90℃、+/-1℃分解能
・USBインタフェース
・電源:100〜220VAC
・外形寸法:240W x 200D x 60H mm
・重量:3Kg









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